半導體電子高低溫交變溼熱試驗箱

半導體電子高低溫交變溼熱試驗箱又名恆溫恆溼測試箱╃•╃◕，適用行業電子電器◕╃•、塑膠塑膠◕╃•、航空航天◕╃•、半導體照明◕╃•、光電通訊◕╃•、汽車零部件◕╃•、電線電纜◕╃•、金屬五金◕╃•、化工塗料◕╃•、建材等行業品質檢測及研發新專案之用☁◕◕▩。用於試驗各種材料進行高低溫恆定和漸變◕╃•、突發◕╃•、耐熱◕╃•、耐寒◕╃•、耐乾燥◕╃•、耐溼等環境模擬的可靠效能☁◕◕▩。

執行標準↟╃✘│：

GB10592－93 高低溫試驗箱技術條件

GB10586－93 溼熱試驗箱技術條件

GB10586－93 GB2423.1－2001試驗A 低溫試驗方法

GB2423.2－2001試驗B 高溫試驗方法

GB2423.3－93試驗Ca 恆定溼熱試驗方法

GB2423.4－93試驗Db 交變溼熱試驗方法

產品規格↟╃✘│：

型號:LS-TH-80   工作室尺寸W×H×D: 400×500×400

型號:LS-TH-150  工作室尺寸W×H×D: 500×600×500

型號:LS-TH-225  工作室尺寸W×H×D: 500×750×600

型號:LS-TH-408  工作室尺寸W×H×D: 600×850×800

型號:LS-TH-800  工作室尺寸W×H×D: 1000×1000×800

型號:LS-TH-1000工作室尺寸W×H×D: 1000×1000×1000

技術引數↟╃✘│：

1◕╃•、溫度範圍↟╃✘│：Z: 0～150℃◕╃•、T:-20～150℃◕╃•、F:-40～150℃◕╃•、S:-70～150℃

2◕╃•、溼度範圍↟╃✘│：20%～98% R.H（溫度在20℃～80℃時）

3◕╃•、溫度均勻度↟╃✘│： ≤±2℃ （空載時）

4◕╃•、溼度均勻度↟╃✘│：+2% -3% R.H

5◕╃•、溫度波動度↟╃✘│：±0.5℃ （空載時）

6◕╃•、溼度波動度↟╃✘│：±2%

7◕╃•、溫度偏差↟╃✘│：≤±2℃

8◕╃•、溼度偏差↟╃✘│：≤±2%

9◕╃•、降溫速率↟╃✘│：0.7～1.2℃/min

10◕╃•、升溫速度↟╃✘│：1.0～3.0℃/min

11◕╃•、時間設定範圍↟╃✘│：0～999 小時

12◕╃•、溫度交變範圍↟╃✘│：-70～150℃

13◕╃•、溼度交變範圍↟╃✘│：40%～98% R.H

14◕╃•、電  源:  1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%

半導體電子高低溫交變溼熱試驗箱結構簡介↟╃✘│：

1◕╃•、外膽採用優質A3鋼板數控機床加工成型╃•╃◕，外殼表面進行噴塑處理╃•╃◕，更顯光潔美觀☁◕◕▩。

2◕╃•、內膽採用進口不鏽鋼（SUS304）鏡面板☁◕◕▩。

3◕╃•、保溫材質:高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm

4◕╃•、溫溼度迴圈系統:採用特製空調型低噪音長軸風扇電機╃•╃◕，耐高低溫之不鏽鋼多翼式葉輪,以達強度對流 垂直擴散迴圈☁◕◕▩。

5◕╃•、門與箱體之間採用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區的密閉

6◕╃•、採用無反作用門把手╃•╃◕，操作更容易

7◕╃•、機器底部採用高品質可固定式PU活動輪.

8◕╃•、觀察窗採用多層中空鋼化玻璃,內側膠合片式導電膜加熱除霜（清楚觀察試驗過程）

9◕╃•、測試孔(機器左側)可外接測試電源線或訊號線使用(孔徑或孔數須增加需指示)

製冷系統控制 ↟╃✘│：

1◕╃•、壓縮機↟╃✘│：全封閉法國泰康

2◕╃•、製冷方式↟╃✘│：復疊式製冷

3◕╃•、 冷凝方式↟╃✘│：強制風冷冷卻

4◕╃•、製冷劑↟╃✘│：R404A◕╃•、R23（環保型）

5◕╃•、系統管路均作通氣加壓48H撿漏測試.

6◕╃•、加溫◕╃•、降溫系統完全

7◕╃•、內螺旋式冷媒銅管

8◕╃•、斜率式蒸發器

9◕╃•、乾燥過濾器◕╃•、冷媒流量視窗◕╃•、修理閥◕╃•、油分離器◕╃•、電磁閥◕╃•、貯液筒均採用進口原裝件

10◕╃•、除溼系統↟╃✘│：採用蒸發器盤管露點溫度層流接觸除溼方式

11◕╃•、降溫時啟動R404A ◕╃•、R23╃•╃◕，除溼時只啟動R404A（節能降耗）